TVS二极管HEMP响应特性统计分析

作者：杜鸣心; 石立华; 周颖慧; 富志凯

来源：环境技术, 2015, 33(04): 50-54.

• TVS二极管
• HEMP
• 累积效应
• 损伤概率
• 损毁概率

针对瞬态电压抑制(TVS)二极管对高空核爆炸产生的电磁脉冲(HEMP)的防护问题,研究了不同类型脉冲传导注入至被测电路,分别测得了限幅电压、损伤阈值电压、损毁阈值电压和损毁阈值电流,计算出了不同类型脉冲作用下损伤概率和损毁概率。结果表明被测电路受到了注入脉冲次数累积效应的影响,脉冲次数越多,其阈值电压和阈值电流会越低。研究结果为微电子设备的电磁脉冲防护及HEMP防护中的器件选择提供了参考。

• 单位
  解放军理工大学