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摘要
为了满足全聚焦阵列超声扫查实时成像、图像缺损清晰可辨等要求，建立了一种全聚焦成像（TFM）相控阵列的稀疏优化模型，利用最小冗余度阵列（MRLA）进行稀疏设计，利用遗传算法（GA）对扫查图像信噪比进行优化；将最终优化后的稀疏阵列与满阵、最小冗余阵、遗传算法优化阵列的声场波束图进行对比，并以此阵列为基础建立全聚焦扫查环境，对连续的20个点缺陷进行扫查测试。实验证明：37选16的阵列利用此模型稀疏优化后，最高旁瓣可获得4.902 8 dB的优化，稀疏率为0.27的阵列较满阵成像效率提高了58.3%，且API值为0.539 7，得到的扫查图像既可获得最小冗余下的最大信息量，又具有良好的旁瓣特性，同时阵列稀疏化，极大地提高了全聚焦扫查效率。
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