一种针对AMOLED器件劣化的电学补偿技术

作者：解红军; 张小宝^*

来源：液晶与显示, 2019, 34(04): 335-341.

• 电压侦测
• 电学补偿
• 器件劣化
• 残像

AMOLED显示屏经过长时间的使用,不可避免地会有OLED器件劣化的问题。同一显示屏内不同位置的像素器件的劣化程度不同,造成显示屏整体亮度下降和显示残像。使用越久、亮度越高的像素,器件劣化就越严重。本文提出一种电学补偿技术,用以改善OLED器件劣化造成的亮度下降和显示残像。采用电学侦测的方法获得各个像素的OLED器件的VTH,将其存储于闪存芯片内,显示时通过查找表找到对应的OLED发光效率,计算得出各个像素的补偿后灰阶值,实现实时补偿的效果。本技术可以使劣化越严重的像素,获得越大的像素电流,从而弥补由于劣化造成的发光效率下降,最终得到理想的像素亮度。使用该方法可以补偿由于OLED劣化造成的亮度下降和显示残像,残像指标JND小于3.1。

• 单位
  维信诺科技股份有限公司