二维不规则排样背景下的零件像素化表达算法

作者：刘虓; 王宇帆; 刘嘉敏

来源：锻压技术, 2021, 46(08): 44-48.

DOI：10.13330/j.issn.1000-3940.2021.08.008

• 不规则排样
• 像素化
• 矢量图
• 冲突检测
• 材料利用率

针对目前主流的零件表达方式,当零件外形呈现出凹多边形特性且顶点数目较多时,冲突检测算法明显变慢的问题,提出了一种零件像素化表达方法,即在零件包围盒上布置多个方形微粒,然后,通过二维布尔变量数组存储微粒是否被占用的信息,提出了微粒"占用"的判断算法。算例1研究了像素图生成速度与微粒边长和零件外形的关系;算例2则研究了零件像素化程度与排样性能的关系,最后,给出了推荐的微粒边长。推荐微粒边长可令排样计算速度和排样效果取得最佳的平衡。同时,算例2还与商用排样软件SigmaNest进行了对比,实验结果表明,如果使用推荐的微粒边长,本文算法得到的材料利用率高于SigmaNest算法,且计算耗时只有后者的2.8%。

• 单位
  华南理工大学; 沈阳工业大学