自相关分析法用于电离层TEC的内插评估

作者：王建平; 刘瑞源; 邓忠新

来源：空间科学学报, 2019, 39(06): 738-745.

• 电离层TEC
• 内插精度
• TEC变化特性

基于2004年实测数据的统计分析,将自相关分析法用于电离层TEC的缺值内插,并进行精度评估.采用上海地区GPS综合应用网和中国地壳运动GPS监测网数据,解算成电离层垂直TEC,对缺值进行了时序内插及评估.结果表明,缺值段内的插值误差一般中间较大,两侧较小,插值误差远小于均方差.将自相关分析法内插结果与线性插值法、抛物线法、三次样条法内插结果进行对比,发现对于缺值较多、变化较复杂的缺值段,其插值精度有明显的提高.采用自相关方法进行内插后,有效减小了由于缺值而引起的局部跳跃变化,可以比较准确地研究TEC变化特性.

• 单位
  宝鸡文理学院; 中国电波传播研究所; 中国极地研究中心