顾及粗差影响的全球电离层克里金插值及精度分析

作者：朱永兴; 谭述森; 杜兰; 贾小林^*

来源：测绘学报, 2019, 48(07): 840-848.

• 克里金插值
• 总电子含量
• 全球插值
• 粗差剔除
• 精度分析

针对克里格电离层插值方法受粗差数据影响和全球适用性问题,基于克里金插值的变异函数,构造电离层插值的粗差剔除统计量,实现插值过程自动化粗差剔除。采用全球电离层总电子含量格网产品进行试验验证,得出以下结论:①粗差剔除统计量能有效剔除粗差,保证插值精度与样本精度相当;②基于2014年太阳活动高年样本,克里金插值的精度RMS为1.0～5.0 TECU(total electron content unit)。

• 单位
  地理信息工程国家重点实验室; 西安测绘研究所; 信息工程大学