电离辐射对Jurkat T细胞凋亡与坏死的影响

作者：张萱; 刘扬; 王珍琦; 孙延红; 龚守良; 刘志强

来源：吉林大学学报(医学版), 2007, 33(5): 782-785.

DOI：10.3969/j.issn.1671-587X.2007.05.002

• 辐射
• 电离
• 凋亡
• 坏死
• Jurkat T细胞

目的:研究电离辐射诱导Jurkat T细胞凋亡与细胞坏死的变化规律,探讨电离辐射作用后细胞的死亡模式与机理.方法:采用Annexin V-EGFP和PI 双染、流式细胞术(FCM)检测不同剂量(0.075、0.500、1.000、2.000、4.000和6.000 Gy)X射线照射后Jurkat T细胞凋亡与细胞坏死的时间-效应关系和剂量-效应关系.结果:时间-效应关系,2.000 Gy X射线

• 单位
  吉林大学; 公共卫生学院; 中国科学院长春应用化学研究所