首次提出基于微波光链路来对激光器的相对强度噪声进行测量,并对其有效性进行了实验验证.激光器作为微波光链路的重要模块,其相对强度噪声对微波光链路的相位噪声影响较大,当单频点微波信号通过微波光链路后,其相位噪声会被该链路的噪声污染,通过计算相位噪声的变化能有效评估激光器的相位噪声.相比传统测量方法而言,该方案能够避免光电器件近直流有色噪声对测量结果的干扰,实现精确测量的目的.
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