一种基于自适应遗传算法优化BP神经网络的漏磁缺陷量化框架

作者：刘思娇^*; 郑莉; 焦晓亮; 呼婧

来源：无损检测, 2020, 42(10): 52-55.

• 漏磁缺陷
• 尺寸量化
• 自适应遗传算法
• BP神经网络

由于传统遗传算法在优化BP神经网络应用中训练速度慢、拟合效果不好,所以神经网络对管道漏磁缺陷的量化精度差。将自适应遗传算法引入到BP神经网络中,进行漏磁缺陷的尺寸反演,根据实测漏磁缺陷的数据特点,自适应设定交叉算子和变异算子的交叉率和变异率,进而优化BP网络的初始权值;采用不同尺寸的缺陷特征库训练网络,实现对缺陷长度、宽度、深度的量化。