在高压耦合电容器的生产过程中,需要测量介损异常的产品每只元件的电容量和tanδ值。为提高测试效率,对带有均压电阻的耦合电容器在不拆解均压电阻情况下如何保证测量准确性的问题进行分析。以该类耦合电容器元件为研究对象,通过建立测量单只元件模型,确定均压电阻对电容量和tanδ测量值的函数关系,分析均压电阻值对tanδ值的影响,并在实际的直流耦合电容器上进行了模拟试验,证明了分析正确性,为测量该类电容器元件的电容量和tanδ值提供依据。
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