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摘要
存储器作为片上系统(SoC)中最大和最重要的模块之一，它的稳定性和可靠性关乎着整个芯片能否正常工作。为了提高存储器的测试效率，该文提出一种新型动态March算法——Dynamic-RAWC。相比经典的March RAW算法，Dynamic-RAWC算法有着更良好的故障检测效果：动态故障覆盖率提高了31.3%。这个可观的效果得益于所提算法以经典的March RAW算法为基础进行优化，融入了Hammer, March C+算法的测试元素和一些新的测试元素。不同于普通March型算法的固定元素，所提算法支持用户自定义算法的执行顺序以适应不同的故障检测需求，能够动态地控制算法元素，在时间复杂度和故障覆盖率之间进行调整从而达到良好的平衡。
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