基于CDEGS试验站接地网地电位升的研究

作者:胡丁尹; 李阳; 陈小柯; 宇文博; 何冰
来源:电器与能效管理技术, 2019, (14): 21-26.
DOI:10.16628/j.cnki.2095-8188.2019.14.004

摘要

试验站在进行接通与分断能力试验时,当电器出线端三相短接并接地时,三相负载如果出现不对称,短接点会有电流通过接地点注入接地网中;当电器的接地部件通过熔断元件与接地点连接,在出现故障电流时也会有电流通过接地点注入接地网中。这两种情况都会使试验站接地网出现地电位升。地电位升具有一定危害,会引起地电位反击,破坏地电位范围内的电子及金属设备。针对以上情况,对试验站接地网进行了不同电流在接地网中心、边角注入时的地电位升研究分析。