OLED制程中暗点不良的产生与改善研究

作者：张全义; 奉晓明; 罗云; 邓珉阳; 王云志; 莫再隆; 郑英花

来源：电子世界, 2019, (15): 5-7.

DOI：10.19353/j.cnki.dzsj.2019.15.001

<正>为降低OLED背板制程中产生暗点的发生率,研究了暗点产生的影响因素,并结合生产实际对暗点不良改善进行了大量的实验测试、数据分析和理论研究工作。研究结果表明:通过调整点灯pad区域层间平坦层PLN的包覆量、源漏极SD金属层厚度、阳极剥离stripe后固化工艺等一系列措施,产品质量得到极大的提升,暗点不良率得到很大的降低,为以后其他产品暗点的改善及良率提升奠定了一些理论基础。

• 单位
  成都京东方光电科技有限公司