微波芯片Au80Sn20全自动共晶焊接工艺

作者:冯晓晶; 夏维娟; 孙鹏; 连凯
来源:电子工艺技术, 2020, 41(06): 346-349.
DOI:10.14176/j.issn.1001-3474.2020.06.010

摘要

介绍了微波芯片全自动Au80Sn20共晶焊接工艺。采用全自动设备对微波GaAs芯片与可伐载体进行Au80Sn20共晶焊接,并利用显微镜、X-ray测试、推拉力测试等方法对样件外观、空洞率和焊接强度进行检测。研究发现:摩擦焊接方式下,根据生产需求选择合适的焊片裁切方式、焊片尺寸、摩擦幅度,能够得到良好的共晶焊接效果。结果表明:芯片表面无污染,焊料溢出符合要求,空洞率小于25%,剪切强度高达111.9 N(1.96 mm2面积的芯片),满足标准要求。