粉末压片-X射线荧光光谱法测定铁矿石中氧化钾、氧化钠和硫

作者：樊鑫; 赵艳兵

来源：山西化工, 2020, 40(05): 67-69.

DOI：10.16525/j.cnki.cn14-1109/tq.2020.05.24

• 粉末压片
• X射线荧光光谱
• 铁矿石
• 氧化钾
• 氧化钠
• 硫

快速、准确分析铁矿石中氧化钾、氧化钠、硫含量,对炼铁高炉稳定运行具有重要意义。采用粉末压片的制样方式,应用X射线荧光光谱法(XRF)对铁矿石中氧化钾、氧化钠、硫含量的测定进行了研究。讨论了压片机的压力、保压时间、样品粒度对测量结果的影响,获得最佳的制样条件。选用标准样品绘制校准曲线,并采用经验系数法校正,克服测定各组分时基体效应的影响。对铁矿石样品进行精密度实验,各组分11次平行测定的相对标准偏差在0.09%～1.00%;采用本方法对未参加校准的铁矿石标准样品进行准确度验证,验证结果与标准值相吻合。

• 单位
  太原钢铁(集团)有限公司; 太原钢铁（集团）有限公司; 山西太钢不锈钢股份有限公司