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CMM关键过程域剖析:缺陷预防
作者:王磊; 祝振宇
来源:
科技广场
, 2010, (05): 243-245.
缺陷预防
正交缺陷分类法
CMM Defect Prevention
ODC
CMM
摘要
缺陷预防的着眼点在于以往的缺陷原因分析,历史数据的量化分析,以及规划并实施一定的措施来减少项目的缺陷。本文主要介绍了缺陷分析的主要技术,提出了缺陷预防策略对软件过程的改进。
单位
广东工业大学华立学院
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