通过所建立的厚涂层附着模型和电子探针微区分析仪(EPMA)、辉光放电光谱仪(GDS),分析和研究了无取向硅钢绝缘涂层剥离前后的形貌和成分。结果表明,涂层和基板为物理附着,产生剥离的主要形式为涂层与基板的界面剥离,同时伴有涂层自身的层间剥离;弯曲产生的涂层龟裂可能是导致剥离的一个重要原因。