光线追迹法在双折射滤光器误差分析中的应用

作者:玄伟佳; 王东光; 邓元勇; 张志勇; 孙英姿
来源:光学精密工程, 2008, 16(5): 771-777.
DOI:10.3321/j.issn:1004-924X.2008.05.003

摘要

从单轴晶体的双折射性质出发,应用光线追迹方法,研究了滤光器系统中光的传播规律.将光线的传播方向、相位信息和振动状态用入射角、入射光方位角和晶体参最表示出来,结合偏振光的干涉原理,辅以计算机编程,分析了多种误差源对透过带形状的影响.通过与Evans离轴效应公式的对比,得到0.7%的最大相对误差,从而验证了本文方法的正确性,为滤光器的研制提供了可靠依据.

  • 单位
    国家天文台; 中国科学院

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