Match loop测试方法研究

作者：崔海龙; 田爱国

来源：数字技术与应用, 2018, 36(04): 112-113.

DOI：10.19695/j.cnki.cn12-1369.2018.04.56

• ATE
• match loop
• 数字芯片测试
• 时钟同步

在数字芯片测试中,当遇到芯片的数据输出时间点不确定的情况时,测试仪无法编写严格时序的测试向量,而采用match loop向量编程的测试方法可有效的解决以上问题。本文分析了两种基本match loop方法,针对一款基带芯片,采用match loop测试方法进行了详细的分析,最终完成测试。

• 单位
  中国电子科技集团公司第五十四研究所