基于FPGA的微处理器SET敏感性评估方法

作者：孙骏; 梁**; 姚瑶; 黄正峰; 徐秀敏

来源：合肥工业大学学报(自然科学版), 2019, 42(11): 1509-1568.

• 单粒子瞬态(SET)
• 现场可编程门阵列(FPGA)
• 微处理器
• 故障注入
• 敏感性评估

为了快速准确地的评估微处理器单粒子瞬态(single event transient,SET)软错误敏感性,文章提出了一种改进的基于现场可编程门阵列(field programmable gate array,FPGA)故障注入的软错误敏感性评估方法。该方法通过分析微处理器门级网表和时序文件,提取SET故障注入位置和传输延时信息,使用扫描链实现SET故障脉冲的注入,同时考虑了时窗屏蔽效应、逻辑屏蔽效应和电气屏蔽效应对SET故障脉冲传播的影响;并使用该方法对PIC16F54微处理器进行了故障注入。实验结果表明,基于该方法进行故障注入及软错误敏感性评估所需的时间比Isim软件仿真方法提高了约4个数量级。

• 单位
  合肥工业大学