表面光伏技术可测量半导体材料的少数载流子的扩散长度、表面电荷等,能表征半导体微结构.采用静电计管作为信号的前置放大器具有电压增益低、体积大等缺点.介绍了一种表面光伏谱前置放大器的设计原理、设计方案和应用实例.该前置放大器具有灵敏度高、响应时间短、截止频率低等优点,并且体积小、使用成本低.