近红外光谱过程分析与控制技术融合及展望

作者：陈夕松; 苏曼; 蒋立沫

来源：测控技术, 2018, 37(09): 5-9.

DOI：10.19708/j.ckjs.2018.09.002

• 近红外光谱
• 过程分析技术
• 过程控制技术
• 融合
• 展望

以近红外(NIR)光谱为代表的新型过程分析技术(PAT)近年来在流程行业得到越来越多的应用。PAT是以化学计量学为基础,并采用自动化分析仪器的生产过程质量分析新方法,与传统化验分析技术相比,PAT具有测量速度快、准确度高等优点。介绍了NIR光谱的PAT原理,归纳了NIR光谱分析仪器技术特点及应用场合,阐述了NIR光谱预处理、建立校正模型等技术。进一步地,介绍PAT与过程控制技术(PCT)的融合,重点分析了PAT在完善先进控制技术及实时优化中所起的重要作用。最后,对PAT及PCT在流程智能制造领域的融合发展进行了展望。

• 单位
  自动化学院; 东南大学