基于FPGA的集成电路芯片测试系统设计

作者：李晓东

来源：信息与电脑(理论版), 2021, 33(23): 125-127.

• FPGA
• 集成电路
• 分差定位法

针对传统系统在集成电路芯片测试应用中测试时间比较长、速度比较慢等问题,本文提出基于现场可编程逻辑门阵列(Field Programmable Gate Array,FPGA)的集成电路芯片测试系统设计。首先,在系统硬件方面对集成电路芯片测试器进行了选型与设计,采用三线圈差动涡流电路芯片测试器对集成电路芯片进行测试,系统电路采用了10根引脚,为系统运行提供可靠电路;其次,在系统软件方面采用FPGA技术对集成电路芯片测试向量进行导入,并利用分差定位法对测试信号进行波形恢复处理;最后,利用分析算法计算集成电路芯片故障概率。经实验证明,设计系统测试时间比传统系统更短,具有较快的测试速度。

• 单位
  长春工业大学