粉末压片-X射线荧光光谱法测定铋矿石中铋及主量组分

作者：王子杰; 王干珍; 汤行; 易晓明

来源：冶金分析, 2018, 38(08): 21-25.

DOI：10.13228/j.boyuan.issn1000-7571.010385

• X射线荧光光谱
• 铋矿石
• 粉末压片
• 氧化镧
• 硼酸
• 铋
• 主量组分

利用X射线荧光光谱仪(XRF)结合粉末压片法来测定铋矿石中铋及主量组分。通过向样品中加入稀释剂硼酸来减小基体效应,并加入氧化镧来保持样品总质量吸收系数稳定。实验选取0.5g样品、0.5g氧化镧和2.5g硼酸混合均匀作为待测样品。为了解决铋矿石标准样品缺乏的问题,将钨铋矿石成分分析标准物质GBW07284与水系沉积物成分分析标准物质GBW07317以不同质量比例(1∶1,1∶2,1∶3,1∶5)混合配制成铋元素含量具有一定梯度的校准样品。样品的混合均匀性实验表明各元素测定结果的相对标准偏差(RSD,n=12)在0.26%4.0%之间。方法中各元素的检出限为0.004%0.95%。通过对GBW07241的验证,测定值均在误差范围内,各组分测定结果的相对标准偏差(RSD,n=11)在4%以下。通过对多个样品的分析比对,实验方法的分析结果与常规化学测定值基本一致,符合地质样品分析规范要求。

• 单位
  湖南省地质测试研究院