基于改进SIFT算法的缺陷测量方法

作者：谢忠阳; 杨成禹^*

来源：长春理工大学学报(自然科学版), 2023, 46(05): 75-81.

• SIFT
• 缺陷测量
• 图像拼接
• YOLOv3
• 工业内窥镜

针对工业内窥镜在缺陷检测时遇到较大、较长的缺陷无法一次性完成识别、测量的问题，提出一种基于改进SIFT算法的图像拼接方法。在建立尺度空间的过程中，使用灰度阈值的方法，缩小了检测范围，解决SIFT算法在使用过程中计算量过大的问题。使用YOLOv3算法完成对缺陷区域的识别，并通过像素尺寸与实际尺寸的关系，实现对拼接后缺陷真实长度的测量。借助工业内窥摄像头，开展了缺陷拼接、识别和测量实验。实验结果表明，利用改进的SIFT算法对缺陷图像的拼接识别准确率可达92.83%；角点检测速度提高了44.3%；拼接后的缺陷测量相对误差可达0.63%。所提的方法具有较高的识别准确率和测量精度，可广泛应用于工业内窥镜的缺陷测量中。

• 单位
  长春理工大学