本研究以JTAG技术为基础,对基于电子控制器的片上可调式性结构进行了设计。在研究的过程中,首先概述了JTAG技术的相关理论,然后基于JTAG协议规范和TAP控制器,设计了一种满足电子控制器的片上通用化可调试性结构,以实现全局地址空间的调试访问。通过对调试结构设计的实验,结果显示,这一调试结构能够缩短调试时间,并能够降低面积开销,同时还具有较可靠的调试链路。
科研之友
微信
新浪微博
Facebook
分享链接
