不同厚度镥样品中子俘获反应实验研究

作者：王德鑫; 张苏雅拉吐^*; 蒋伟; 任杰; 王金成; 唐靖宇; 阮锡超; 王宏伟; 陈志强; 黄美容; 唐鑫; 胡新荣; 李鑫祥; 刘龙祥; 刘丙岩; 孙慧; 张岳; 郝子锐; 宋娜; 李雪; 牛丹丹; 利国; 蒙古夫

来源：Acta Physica Sinica, 2022, 71(07): 89-96.

• 中子俘获反应截面
• 中国散裂中子源
• 共振参数分析

C_6D_6闪烁体探测系统结合脉冲权重技术被广泛应用于中子俘获反应截面测量研究.实验中采用的样品厚度直接影响中子束流时间,同时也影响实验数据的可靠性.本文基于中国散裂中子源反角白光束线(CSNS Back-n)C_6D_6探测系统,对比研究了不同厚度的镥(Lu)样品中子俘获反应截面的实验测量.利用GEANT4蒙特卡罗程序模拟了考虑样品厚度的探测系统光响应,计算出精确的脉冲权重函数.实验中,通过采用较长中子飞行距离和本底测量,得到了高精度的共振区产额分布.通过R矩阵理论分析产额分布,得到了相应的实验共振参数.结果发现,较厚Lu样品因其厚度效应导致共振曲线发生变化,实验共振参数与ENDF/B-Ⅷ.0评价数据库差距较大;然而,较薄Lu样品实验结果能够很好地再现ENDF/B-Ⅷ.0评价数据.

• 单位
  散裂中子源科学中心; 数理学院; 中国科学院上海应用物理研究所; 中国科学院高能物理研究所; 中国原子能科学研究院; 中国科学院近代物理研究所; 内蒙古民族大学