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摘要
该文通过热刺激电流法(thermally stimulated depolarization current,TSDC)研究了热老化对XLPE电缆绝缘陷阱参数的影响。TSDC结果表明,XLPE绝缘在-70、-30、75、95及105℃附近共出现了5个松弛峰。-70和-30℃附近的两个松弛峰在整个热老化过程中活化能保持不变,可认为是XLPE的本征松弛过程,分别对应无定形区链段运动和羰基转向极化,其陷阱电荷量在重结晶阶段基本不变,在热氧老化阶段快速增加。75℃附近的松弛峰对应XLPE晶区与非晶区界面处陷阱电荷的释放。在重结晶阶段,该峰的活化能增大,陷阱电荷量保持不变,在热氧老化阶段该峰的活化能趋于饱和,陷阱电荷量增大。95和105℃附近的两个松弛峰分别对应晶区分子链段的运动和起始熔融过程,总陷阱电荷量在重结晶阶段增加,在热氧老化阶段减少。
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