一种有效的双矢量测试BIST实现方案

作者:张金林; 陈朝阳; 沈绪榜; 张晨
来源:微电子学与计算机, 2004, (04): 116-120.
DOI:10.19304/j.cnki.issn1000-7180.2004.04.031

摘要

文章提出了一种简单有效的双矢量测试BIST实现方案,其硬件主要由反馈网络可编程且种子可重置的LF鄄SR和映射逻辑两部分构成。给出了一种全新的LFSR最优种子及其反馈多项式组合求取算法,该算法具有计算简单且容易实现的特点。最后,使用这种BIST方案实现了SoC中互联总线间串扰故障的激励检测,证明了该方案在计算量和硬件开销方面的优越性。

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