科研之友
微信
新浪微博
Facebook
分享链接
摘要
高导电性薄金属箔电导率难以准确测定一直是该研究领域的痛点问题。研究了金属箔厚度对超薄金属箔-空气界面电场反射、金属箔表面阻抗、涡流线圈阻抗的影响，进而提出了一种适用于厚度小于100μm金属箔的电导率无损测试新方法。新方法利用两片厚度不同的同种金属箔定义了“厚度系数”,从而规避了界面处电场反射对测试的影响。结果表明：新方法可应用到银、铜、铜铬锆箔等电导率处于80%～110%IACS范围内的箔类材料，测试偏差可控制在约3%以内，且可以通过厚度设计缩小误差至小于2%IACS,远小于叠层结构法误差(约20%)。该研究将有助于完善科学研究和工业领域所需要的高导电超薄金属箔测试标准。
-
单位上海交通大学; 金属基复合材料国家重点实验室
