文中针对引起开关柜温升的涡流损耗解决方案进行理论分析,采用有限元软件进行仿真计算涡流损耗,提出利用磁旁路方法进行开关柜柜体损耗优化;比较分析两种优化方案对开关柜柜体的温升影响,仿真结果验证优化方案的合理性,该方法的应用对于开关柜产品的性能提升起到重要作用。