基于磁旁路方法的开关柜温升优化

作者:刘旭光; 顾小虎; 姜富修
来源:高压电器, 2019, 55(08): 96-107.
DOI:10.13296/j.1001-1609.hva.2019.08.013

摘要

文中针对引起开关柜温升的涡流损耗解决方案进行理论分析,采用有限元软件进行仿真计算涡流损耗,提出利用磁旁路方法进行开关柜柜体损耗优化;比较分析两种优化方案对开关柜柜体的温升影响,仿真结果验证优化方案的合理性,该方法的应用对于开关柜产品的性能提升起到重要作用。

  • 单位
    上海置信电气股份有限公司; 江苏南瑞帕威尔电气有限公司; 南瑞集团公司(国网电力科学研究院)

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