针对国内在用的SIL证书种类繁杂,在使用中暴露出很多错误和误导的问题,介绍了评估硬件故障裕度时的常见问题和误区,以及评估硬件故障裕度的两种新方案路径1H和路径2H,对比分析两种新方案评估特点并进行了应用验证。结果表明:路径1H的硬件容错方法在流程领域中一般并不适用,路径2H评估过程则较为简单实用。
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