相控阵天线驻波测试方法研究

作者：刘举; 王永海; 谷加臣

来源：现代信息科技, 2020, 4(02): 74-79.

DOI：10.19850/j.cnki.2096-4706.2020.02.027

• 相控阵
• 驻波
• 互耦

天线辐射信号时,自身会存在一定大小的驻波,而相控阵天线的单元间还存在互耦效应,使得天线的驻波增大,会对发射机功放组件造成一定的损坏,因此,在设计相控阵天线时,必须考虑驻波的大小及其影响。针对此问题提出了一种测试相控阵天线驻波大小的方法,将驻波分为自耦部分和互耦部分,分别进行测试,并相加得到总的驻波,并与仿真结果进行了对比验证,证明了测试方法的有效性。