产品随机缺陷生产系统有限时域最优生产控制

作者：宋春跃; 王慧

来源：控制理论与应用, 2007, 24(04): 639-642+650.

DOI：10.3969/j.issn.1000-8152.2007.04.024

• 生产控制
• 产品缺陷
• 成本最小
• 随机产量 production control
• defect-prone
• cost minimization
• random yield

针对合格产品产量呈随机分布的单设备单产品类型不可靠生产系统,假设所生产合格产品的产量占所生产产品总量比例的概率分布已知,且产品质量检测消耗时间与生产控制时域相比较小.本文通过对目标函数的离散化,在离散空间上对生产控制策略进行寻优,得到基于当前状态下的最优生产控制策略,该策略可解析表示为合格产品产量分布、成本惩罚系数c~+(c~-)、当前状态及产品质量检测时间的函数.与同类文献所得结果相比较,该控制策略克服了文献[8]结论有可能导致系统状态发散的缺点,并且最优控制策略表达式更简洁,所得结论对实际工程应用而言有显著意义.

• 单位
  工业控制技术国家重点实验室; 浙江大学