PBGA器件回流翘曲仿真及验证

作者:朱思雄; 黄彦; 李轶楠; 张振越; 彭鹏
来源:电子产品可靠性与环境试验, 2020, 38(05): 71-74.

摘要

采用有限元分析法,运用Ansys仿真工具,探究了EMC的CTE、厚度和芯片的厚度对PBGA器件回流翘曲的影响。仿真结果表明,通过选取与封装体其他器件CTE相适配的EMC,可以有效地补偿热失配引起的翘曲;同时,通过调整EMC和芯片的厚度,也可以明显地改善翘曲。PBGA器件回流的翘曲测量值与有限元预测结果具有较好的一致性。