摘要

目的:应用根管显微镜,研究上颌第一磨牙根管治疗过程中近中颊根第二根管(MB2)遗漏导致治疗失败病例的比例。方法:在UNIVERSA/FS2012根管显微镜下探查寻找并预备MB2根管,计算检出率的比例。结果:首次根管治疗失败的上颌第一磨牙中,再次治疗时根管显微镜下MB2根管的检出率为81.0%,首次治疗MB2根管的遗漏率为47.1%。结论:传统方法易造成MB2根管遗漏,应用根管显微镜可提高MB2根管的发现率。

  • 单位
    第四军医大学