熔融制样-X射线荧光光谱法测定硅钙钡合金中硅钙钡磷铝

作者：王娟

来源：冶金分析, 2020, 40(06): 62-67.

DOI：10.13228/j.boyuan.issn1000-7571.010973

• 熔融制样
• X射线荧光光谱法(XRF)
• 硅钙钡合金
• 硅
• 钙
• 钡
• 磷
• 铝

为消除硅钙钡合金试样熔融制片时侵蚀铂-黄坩埚的难题,实验中硅钙钡样品以四硼酸锂-碳酸锂(m∶m=2∶1)为预氧化熔剂,在石墨垫底的瓷坩埚中高温熔融成熔球,再将熔球转到铂-黄坩埚中,再用四硼酸锂为熔剂熔融制成玻璃片,这样铂-黄坩埚在熔融制样过程中的腐蚀问题得到了有效解决,实现了熔融制样-X射线荧光光谱法(XRF)对硅钙钡合金中硅、钙、钡、磷、铝的测定。实验确定了最佳制样条件:0.200 0g试样、2.000 0g四硼酸锂、1.000 0g碳酸锂在石墨垫底的瓷坩埚中,500℃灰化完全,900℃熔融15min,取出冷却;移入盛有3.000 0g四硼酸锂的铂-黄坩埚中,加0.50mL 300g/L碘化钾脱模剂,在1 150℃熔融15min,取出摇匀,再熔融15min,取出摇匀冷却,制得均匀玻璃片。实验方法选用具有适当梯度的硅钙钡合金标样和内控样绘制校准曲线,各待测元素校准曲线的相关系数r≥0.999 7。精密度结果表明,各元素测定结果的相对标准偏差(RSD,n=10)在0.11%～5.9%;正确度结果表明,硅钙钡合金标样采用本法分析,其测定值与标准值相吻合。硅钙钡试样采用本法分析,其测定值与行业标准的分析值一致性较好,并进行了成对数据t检验,结果表明本法与行业标准分析方法无显著性差异,能满足日常生产检测要求。