集成电路工程化测试方法研究

作者：王金萍

来源：电子与封装, 2020, 20(01): 11-13.

DOI：10.16257/j.cnki.1681-1070.2020.0103

• 集成电路
• 测试
• 开短路分析
• 功能分析

现今集成电路测试需求不断增加,为保障批量工程化生产测试环节的顺利进行,提高测试机的测试效率,对目前批量测试过程中容易出现的OS和功能工程测试环节故障进行诊断分析,排除一些常见的故障,实现芯片的快速生产测试。