TFT-LCD驱动信号与线残像的关系分析

作者：林宁

来源：电子技术与软件工程, 2020, (23): 87-88.

• TFT-LCD
• 驱动信号
• 线残像

本文对TFT-LCD技术进行研究,分析驱动信号与线残像之间的关系,总结影响两者关系的因素,优化问题解决方案,希望能和同行分享经验与方法,共同提高技术的整体应用效,为相关领域的发展进步作出更大贡献。