双层结构PID控制器性能评估研究

作者：周猛飞; 蔡亦军; 谢磊; 王树青

来源：计算机与应用化学, 2010, (10): 1383-1386.

DOI：10.16866/j.com.app.chem2010.10.019

• PID控制器
• 性能评估
• 双层结构
• 随机性性能
• 确定性性能 PID controller
• performance assessment
• two-layer structure
• stochastic performance
• deterministic performance

针对工业过程常规PID控制回路普遍存在性能退化的现状,提出了1种基于双层结构的PID控制器性能评估方法,该方法可综合地评估PID控制器的性能。其中第1层次的评估只需最少量的过程信息,即采用最小方差基准和脉冲响应曲线方法对PID控制器的随机性性能和确定性性能两方面给出初步的评估。第2层次是基于PID结构的控制器性能评估,这个层次的评估更符合生产实际,但需要用到更多的过程知识和信息。最后将所提出的方法分别应用于仿真过程和工业实际过程。

• 单位
  浙江工业大学; 工业控制技术国家重点实验室; 材料学院; 浙江大学