厚膜熔断器串电阻并联使用的可靠性研究

作者：彭昌文; 杨成; 杨舰; 雷巧林; 孙鹏远; 周婉恬

来源：电子产品可靠性与环境试验, 2018, 36(05): 24-28.

• 厚膜熔断器
• 串电阻
• 并联使用
• 可靠性

以航天工程型号使用的某型厚膜熔断器作为研究对象,对其在串电阻并联使用模式与单只单独使用模式条件下,在不同的过载电流工况下的熔断保护特性和脉冲承载特性的与差异进行了对比研究。结果表明:熔断器中电阻并联使用将为支路上的熔断器起到电流降额作用,同时增大其临界熔断电流值,延长其熔断时间,提高其脉冲承载能力,但不利于快速地切断故障电流。