摘要

本文介绍了闪烁体探测器的核心部件——波移光纤,经过不同温度水浴条件下弯转的光纤弯转损耗变化。通过对实验数据的处理可以得到,经75℃到85℃的温度范围内进行水浴弯转的波移光纤弯转损耗随着温度升高而逐渐减小;经85℃到95℃的温度范围内进行水浴弯转的波移光纤弯转损耗随着温度升高而逐渐增大;并推断在85℃下水浴弯转的波移光纤光纤弯转损耗最小,于是,进一步推断85℃是用于波移光纤弯折工艺的最适温度。