针对大型复杂电子系统最优序贯测试问题,提出一种基于离散粒子群算法(DPSO)和改进AO*算法相结合的方法.DPSO优化AO*算法中每个要扩展节点的测试集从而减少测试个数;改进AO'算法通过规定扩展节点估价值的范围,减少其回溯次数.实例验证表明,该算法不仅有效地降低了计算复杂度,大大减少测试代价,缩短测试时间.而且避免了原有AO*算法当备选的测试集太大时容易出现"计算爆炸"的缺点.