稀释剂粉末压片-X射线荧光光谱法测定锑矿石中锑及主量组分

作者：王干珍; 王子杰; 郭腊梅; 严慧

来源：中国无机分析化学, 2016, 6(01): 22-25.

• X射线荧光光谱法
• 锑矿石
• 稀释剂粉末压片法

利用X射线荧光光谱仪结合稀释剂粉末压片法来测定锑矿石中锑及主量组分。通过稀释剂的加入,减弱了样品的基体效应。人工配制了一系列具有浓度梯度的样品来解决标准样品个数偏少的问题。方法简便、实用,具有较高的精密度和准确度,测定结果满足实际工作需要。方法的相对标准偏差(RSD)为0.19%～2.0%,与常规分析结果基本一致。

• 单位
  湖南省地质测试研究院