本文为A/D动态参数的测试提出了采用低精度激励正弦信号源进行测试的方法。基于被测ADC的特性参数与激励信号源之间的关系,通过简单的压分电路,建立起分压前后激励信号之间的联系,从而可准确估计出激励信号源的参数,进而估计出高精度和高准确度被测ADC动态参数。理论分析和仿真结果表明此方法的有效性和可行性。
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