基于Credence Gemini500的内嵌式AD转换器测试方法研究

作者：鞠家欣; 姜岩峰; 杨兵; 张晓波; 于韶光

来源：电子测试, 2010, (01): 34-37+43.

• 内嵌模数转换器
• 测试模式
• 片上系统 Embedded ADC
• Testing Pattern
• SoC

本文中应用Credence公司的Gemini500测试系统对某一SoC芯片内嵌模数转换器进行了测试。根据芯片功能分析和封装形式,对测试板进行了优化设计。根据内嵌式ADC的时序特点进行了测试向量的设计。

• 单位
  北京自动测试技术研究所; 北方工业大学