摘要
目的探究新生儿缺血缺氧性脑病(HIE)中血清内皮型一氧化氮合酶(eNOS)、内皮抑素(endostatin)表达水平及其与预后相关性。方法选取2015年1月~2020年1月本院收治的HIE患儿97例作为观察组,另选取同期在本院体检显示健康且足月出生新生儿90例作为对照组。采用酶联免疫吸附(ELISA)法检测血清eNOS、endostatin、血管内皮生长因子(VEGF)表达水平;采用Pearson法进行HIE患儿血清eNOS、endostatin、VEGF表达水平相关性分析;采用Logistic回归模型进行HIE患儿发生不良预后影响因素分析。结果观察组患儿血清eNOS、endostatin、VEGF表达水平明显高于对照组,1 min Apgar评分、NBNA评分均明显低于对照组(P<0.05)。HIE患儿血清eNOS与endostatin、VEGF表达水平呈正相关(P<0.05),血清endostatin与VEGF表达水平呈正相关(P<0.05)。轻度组、中度组、重度组HIE患儿血清eNOS、endostatin、VEGF表达水平依次显著升高(P<0.05)。预后不良组患儿血清eNOS、endostatin、VEGF表达水平明显高于预后良好组(P<0.05)。血清eNOS、endostatin、VEGF高水平均是影响HIE患儿发生不良预后的危险因素(P<0.05)。结论 HIE患儿血清endostatin、eNOS表达水平明显升高,二者间存在相互作用关系,在脑损伤和修复过程中发挥重要作用,可预示HIE患儿不良预后发生。
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单位西宁市第二人民医院