片式多层陶瓷电容多轨测试分选设备的设计

作者：肖国龙; 龚正平; 武果

来源：机电工程技术, 2021, 50(08): 208-225.

• 独石电容
• 耐压
• 绝缘
• 容量
• 损耗
• 测试分选

片式多层陶瓷电容(MLCC)常见的测试参数有4个:耐压(TV)、绝缘(IR)、容量(CP)和损耗(DF),其中绝缘包括正向绝缘测试和反向绝缘测试。早期的测试分选设备以四参数单轨测试分选设备、耐压/绝缘两参数测试分选设备和容量/损耗两参数测试分选设备为主。采用多轨同步测试,替代传统的单轨测试,从而大大提高了整机的测试效率,同时节省了场地和人工成本;另外,硬件成本也相对地大幅降低,从而大大提高了设备的性价比和市场竞争力,因此现在市面上进口的这类测试分选设备多数采用多轨模式。由于高速测试,数据信息量大,因此设备采用工控机来控制。工控机配以伺服控制卡、GPIB卡级联控制四参数的测试、DI/DO控制以及可编程电源串口控制等,再通过IO接口,控制和采集多路恒流预充电/放电等外围控制盒,完成整台设备的测试分选工作。

• 单位
  中科院广州电子技术有限公司