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摘要
通过向密码芯片注入电压毛刺故障,使芯片逻辑电路产生延迟,会使逻辑电路输出错误结果。利用这种思想,可以在密码算法运算过程中对密码芯片注入电压毛刺故障,导致密码算法运算错误,输出错误的结果,然后分析正确结果和错误结果之间的差分关系,可以得到密码芯片中的密钥值。本文不仅从理论上分析对DES密码算法的差分故障攻击过程、故障传播过程以及差分分析密钥过程,并对智能卡中硬件DES密码算法的第14轮和第15轮注入电压毛刺故障,引起计算错误,利用这种错误成功获得密钥。
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单位北京电子科技学院
