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摘要
目前辐射防护材料的热中子屏蔽性能测试还没有建立统一的方法和参考标准。本文利用MCNP计算机模拟程序设计了同位素中子源慢化装置,并基于该装置提出了扣除实验结果中的中高能中子计数贡献的热中子屏蔽性能测试和计算方法。利用该方法对多种高分子化合物制成的辐射防护材料进行了热中子屏蔽性能的测试,实验结果表明,屏蔽性能的测试结果与模拟计算结果符合较好。
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目前辐射防护材料的热中子屏蔽性能测试还没有建立统一的方法和参考标准。本文利用MCNP计算机模拟程序设计了同位素中子源慢化装置,并基于该装置提出了扣除实验结果中的中高能中子计数贡献的热中子屏蔽性能测试和计算方法。利用该方法对多种高分子化合物制成的辐射防护材料进行了热中子屏蔽性能的测试,实验结果表明,屏蔽性能的测试结果与模拟计算结果符合较好。
